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    本發明提供一種電流校準電阻的測定裝置，用於測定數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值，所述電流校準電阻的測定裝置包括控制器及與該控制器電性連接的數位電位器，控制該控制器用於獲取數位電源控制晶片的負載電流與內部電流，該控制器用於比對所述負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值改變數位電位器的電阻值，數位電位器用於調節數位電源控制晶片的內部電流，以使所述內部電流與負載電流保持一致。
    公开号:TW201316008A
    申请号:TW100137630
    申请日:2011-10-18
    公开日:2013-04-16
    发明作者:Qi-Yan Luo；song-lin Tong
    申请人:Hon Hai Prec Ind Co Ltd；
    IPC主号:G06F1-00
    专利说明:
    電流校準電阻的測定裝置及系統
    本發明涉及一種電阻測定裝置，尤其涉及一種電流校準電阻的測定裝置及系統。
    在利用數位電源控制晶片為中央處理器（Central Processing Unit，CPU）提供工作電壓時，常需要校準數位電源控制晶片的內部電流。習知的方法是藉由安裝於電腦內的第一測試軟體獲取數位電源控制晶片的負載電流，並以該負載電流為基準；再藉由安裝於電腦內的第二測試軟體獲取數位電源控制晶片的內部電流，並藉由人工的方法為數位電源控制晶片不斷更換不同阻值的校準電阻進行調試，以使內部電流與負載電流保持一致。惟，該方法需要在測試過程中不斷的更換校準電阻方可確定其精確的電阻值，需要花費較多的測試時間及成本。
    鑒於以上情況，有必要提供一種測試便捷的電流校準電阻的測定裝置。
    另，還有必要提供一種電流校準電阻的測定系統。
    一種電流校準電阻的測定裝置，用於測定數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值，所述電流校準電阻的測定裝置包括控制器及與該控制器電性連接的數位電位器，控制該控制器用於獲取數位電源控制晶片的負載電流與內部電流，該控制器用於比對所述負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值改變數位電位器的電阻值，數位電位器用於調節數位電源控制晶片的內部電流，以使所述內部電流與負載電流保持一致。
    一種電流校準電阻的測定系統，用於測定數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值，所述電流校準電阻的測定系統包括控制器、同時與該控制器電性連接的測試機及數位電位器，該測試機用於測得數位電源控制晶片的負載電流與內部電流，該控制器與測試機通訊以獲取所述負載電流與內部電流，該控制器用於比對所述負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值改變數位電位器的電阻值，數位電位器用於調節數位電源控制晶片的內部電流，以使所述內部電流與負載電流保持一致。
    所述電流校準電阻的測定裝置及系統利用控制器獲取數位電源控制晶片的負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值調整數位電位器的電阻值，以校準數位電源控制晶片的內部電流。操作者可依據數位電位器的即時電阻值一次性地選擇對應阻值的電流校準電阻，在測試過程中無需多次更換不同阻值的電流校準電阻，操作簡便。
    請參閱圖1，本發明的較佳實施方式提供一種電流校準電阻的測定系統100，其包括一測試機10及一電流校準電阻的測定裝置30。該電流校準電阻的測定系統100用於測定一數位電源控制晶片200的電流校準電阻的理想電阻值。
    在本實施例中，該數位電源控制晶片200為脈衝寬度調製(Pulse Width Modulation，PWM)控制器，其用以為一中央處理器（圖未示）提供工作電壓。該數位電源控制晶片200與一週邊電路電性連接，該週邊電路包括電容C、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3及溫度補償電阻Rh。該電容C、第三電阻R3及溫度補償電阻Rh並聯，第一電阻R1與第二電阻R2並聯，並均電性連接於電容C與第三電阻R3之間。其中，該第一電阻R1作為數位電源控制晶片200的電流校準電阻，藉由不斷調整第一電阻R1的電阻值可校準該數位電源控制晶片200的內部電流。
    在本實施例中，該測試機10為電腦，其內部裝設有第一測試軟體及第二測試軟體。該測試機10藉由I2C匯流排與數位電源控制晶片200電性連接，以藉由第一測試軟體測得該數位電源控制晶片200的負載電流（即中央處理器的供電電源電流），藉由第二測試軟體測得數位電源控制晶片200的內部電流。該負載電流和內部電流均可藉由測試機10顯示。
    該電流校準電阻的測定裝置30包括控制器U、訊號介面I、數位電位器D及顯示幕L。該訊號介面I、數位電位器D及顯示幕L均與控制器U電性連接。
    該控制器U為單片機，其藉由訊號介面I與測試機10電性連接，以獲取數位電源控制晶片200負載電流及內部電流。該訊號介面I可為MAX232介面或USB介面。該控制器U用於以第一測試軟體測得的數位電源控制晶片200的負載電流為基準，將其與第二測試軟體測得的數位電源控制晶片200的內部電流作比對，並依據二者的電流差值，計算出一對應的電阻值調整資料，以控制數字電位器D，直至上述內部電流與負載電流相同。
    該控制器U包括初始化引腳RB4、RB5、RB6及RB7、資料引腳RC4及時鐘引腳RC5。該初始化引腳RB4、RB5、RB6及RB7與數位電位器D電性連接，用以初始化該數位電位器D，以便與其建立通訊。該資料引腳RC4與數位電位器D電性連接，用以向數位電位器D傳送所述電阻值調整資料，以便改變該數位電位器D的電阻值。該時鐘引腳RC5與數位電位器D電性連接，以向數位電位器D傳送同步時鐘訊號。
    該數位電位器D包括位址端子A0、A1、A2和A3、資料端子SDA、時鐘端子SCL及電阻測定端子RH1、RH2。該地址端子A0、A1、A2和A3分別與控制器U的初始化引腳RB7、RB6、RB5及RB4電性連接，以便數字電位器D完成初始化。該資料端子SDA與控制器U的資料引腳RC4電性連接，以接收電阻值調整資料，並藉此控制數字電位器D改變電阻值，同時該資料端子SDA還用於向控制器U傳送數位電位器D的即時電阻值。該時鐘端子SCL與控制器U的時鐘引腳RC5電性連接。該電阻測定端子RH1、RH2分別電性連接於第一電阻R1兩端，以便在第一電阻R1不安裝時，使該數位電位器D代替第一電阻R1的功能。
    該顯示幕L與控制器U電性連接，以便在控制器U接收到數位電位器D的即時電阻值後，藉由該顯示幕L顯示該即時電阻值。
    當需要測定第一電阻R1的理想電阻值時，首先將數字電位器D的電阻測定端子RH1、RH2分別電性連接於第一電阻R1兩端，再取下第一電阻R1。其後，控制器U讀取第一測試軟體測得的數位電源控制晶片200的負載電流及第二測試軟體測得的數位電源控制晶片200的內部電流，並依據二者的電流差值產生一電阻值調整資料。該電阻值調整資料藉由資料引腳RC4傳送至數位電位器D，以控制數字電位器D改變自身電阻值。由於數位電位器D的電阻值的改變使得數位電源控制晶片200的內部電流發生變化，當該數位電源控制晶片200的內部電流與負載電流一致時，數位電位器D的即時電阻值可認定為數位電源控制晶片200的電流校準電阻的理想電阻值。最後，顯示幕L顯示此時數位電位器D的即時電阻值，如此，操作者可據此安裝阻值對應的第一電阻R1，以校準數位電源控制晶片200的內部電流。
    可以理解，本發明的顯示幕L也可省略，對應的增加一個揚聲器，該揚聲器與控制器U電性連接，並藉由音頻的方式播報該數位電位器D的即時電阻值。
    本發明的電流校準電阻的測定裝置30藉由控制器U比對數位電源控制晶片20的負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值調整數位電位器D的電阻值，進而校準數位電源控制晶片200的內部電流直至與負載電流一致。該電流校準電阻的測定裝置100在測定第一電阻R1（數位電源控制晶片200的電流校準電阻）的理想電阻值時，無需多次更換不同阻值的第一電阻R1，測試簡便，且安裝上第一電阻R1後，數位電源控制晶片200的內部電流更為精確。
    綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
    100．．．電流校準電阻的測定系統
    10．．．測試機
    30．．．電流校準電阻的測定裝置
    U．．．控制器
    RB4、RB5、RB6、RB7．．．初始化引腳
    RC4．．．資料引腳
    RC5．．．時鐘引腳
    D．．．數字電位器
    A0、A1、A2、A3．．．地址端子
    SDA．．．數據端子
    SCL．．．時鐘端子
    RH1、RH2．．．電阻測定端子
    I．．．訊號介面
    L．．．顯示幕
    200．．．數位電源控制晶片
    C．．．電容
    R1．．．第一電阻
    R2．．．第二電阻
    R3．．．第三電阻
    Rh．．．溫度補償電阻
    圖1係本發明較佳實施方式的電流校準電阻的測定系統的功能模組圖。
    100．．．電流校準電阻的測定系統
    10．．．測試機
    30．．．電流校準電阻的測定裝置
    U．．．控制器
    RB4、RB5、RB6、RB7．．．初始化引腳
    RC4．．．資料引腳
    RC5．．．時鐘引腳
    D．．．數字電位器
    A0、A1、A2、A3．．．地址端子
    SDA．．．數據端子
    SCL．．．時鐘端子
    RH1、RH2．．．電阻測定端子
    I．．．訊號介面
    L．．．顯示幕
    200．．．數位電源控制晶片
    C．．．電容
    R1．．．第一電阻
    R2．．．第二電阻
    R3．．．第三電阻
    Rh．．．溫度補償電阻
    权利要求:
    Claims (10)
    [1] 一種電流校準電阻的測定裝置，用於測定數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值，其改良在於：所述電流校準電阻的測定裝置包括控制器及與該控制器電性連接的數位電位器，該控制器用於獲取數位電源控制晶片的負載電流與內部電流，該控制器用於比對所述負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值改變數位電位器的電阻值，數位電位器用於調節數位電源控制晶片的內部電流，以使所述內部電流與負載電流保持一致。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中當數位電源控制晶片的內部電流與負載電流一致時，數位電位器的即時電阻值即為數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值。
    [3] 如申請專利範圍第1項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中所述控制器包括初始化引腳，所述數位電位器包括位址端子，所述初始化引腳與位址端子電性連接，以初始化所述數位電位器。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中所述控制器依據數位電源控制晶片的負載電流與內部電流之間的電流差值，向數位電位器傳送一電阻值調整資料，以改變該數位電位器的電阻值。
    [5] 如申請專利範圍第4項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中所述控制器包括資料引腳，所述數位電位器包括資料端子，所述資料引腳與資料端子電性連接，以傳送所述電阻值調整資料。
    [6] 如申請專利範圍第5項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中所述數位電位器藉由資料端子向控制器傳送該數位電位器的即時電阻值。
    [7] 如申請專利範圍第6項所述之電流校準電阻的測定裝置，其中所述電流校準電阻的測定裝置還包括顯示幕，所述顯示幕與控制器電性連接，以顯示數位電位器的即時電阻值。
    [8] 一種電流校準電阻的測定系統，用於測定數位電源控制晶片的電流校準電阻的電阻值，其改良在於：所述電流校準電阻的測定系統包括控制器、同時與該控制器電性連接的測試機及數位電位器，該測試機用於測得數位電源控制晶片的負載電流與內部電流，該控制器與測試機通訊以獲取所述負載電流與內部電流，該控制器用於比對所述負載電流及內部電流，並依據二者的電流差值改變數位電位器的電阻值，數位電位器用於調節數位電源控制晶片的內部電流，以使所述內部電流與負載電流保持一致。
    [9] 如申請專利範圍第8項所述之電流校準電阻的測定系統，其中所述電流校準電阻的測定系統還包括訊號介面，所述控制器藉由訊號介面連接於測試機。
    [10] 如申請專利範圍第9項所述之電流校準電阻的測定系統，其中所述測試機為電腦，所述訊號介面為MAX232介面或USB介面。
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